全彩LED顯示屏具有高可靠性和長壽命的優(yōu)點，在實際生產(chǎn)研發(fā)過程中，需要通過壽命試驗對LED芯片的可靠性水平進行評價，并通過質(zhì)量反饋來提高LED芯片的可靠性水平，以保證LED芯片質(zhì)量，為此我司在實現(xiàn)全色系LED產(chǎn)業(yè)化的同時，開發(fā)了LED芯片壽命試驗的條件、方法、手段和裝置等，以提高壽命試驗的科學(xué)性和結(jié)果的準確性。

　　電子產(chǎn)品在規(guī)定的工作及環(huán)境條件下，進行的工作試驗稱為壽命試驗，又稱耐久性試驗，隨著LED生產(chǎn)技術(shù)水平的提高，產(chǎn)品的壽命和可靠性大為改觀，LED的理論壽命為10萬小時，如果仍采用常規(guī)的正常額定應(yīng)力下的壽命試驗，很難對產(chǎn)品的壽命和可靠性做出較為客觀的評價，而我們試驗的主要目的是，通過壽命試驗掌握LED芯片光輸出衰減狀況，進而推斷全彩LED顯示屏壽命。我們根據(jù)LED器件的特點，經(jīng)過對比試驗和統(tǒng)計分析，最終規(guī)定了0.3×～0.3mm2以下芯片的壽命試驗條件：

　　1、樣品隨機抽取，數(shù)量為8～10粒芯片，制成ф5單燈；

　　2、工作電流為30mA；

　　3、環(huán)境條件為室溫（25℃±5℃）；

　　4、試驗周期為96小時、1000小時和5000小時三種；

　　全彩LED顯示屏工作電流為30mA是額定值的1.5倍，是加大電應(yīng)力的壽命試驗，其結(jié)果雖然不能代表真實的壽命情況，但是有很大的參考價值；壽命試驗以外延片生產(chǎn)批為母樣，隨機抽取其中一片外延片中的8~10粒芯片，封裝成ф5單燈器件，進行為96小時壽命試驗，其結(jié)果代表本生產(chǎn)批的所有外延片，一般認為，試驗周期為1000小時或以上的稱為長期壽命試驗，生產(chǎn)工藝穩(wěn)定時，1000小時的壽命試驗頻次較低，5000小時的壽命試驗頻次可更低。

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