很多LED的失效通常在LED的常規(guī)檢驗(yàn)測(cè)試中是無(wú)法發(fā)現(xiàn)的。除了在受到靜電放電、大電流(造成結(jié)溫過高)、外部強(qiáng)力等不當(dāng)使用外，很多LED失效是在高溫、低溫、溫度快速變化或其他惡劣條件下，由于LED芯片、環(huán)氧樹脂、支架、內(nèi)引線、固晶膠、PPA杯體等材料熱膨脹系數(shù)的差異，引發(fā)其內(nèi)部應(yīng)力的不同而產(chǎn)生的。

　　LED的質(zhì)量檢測(cè)是一項(xiàng)十分復(fù)雜的工作。再者，對(duì)于GaN基LED而言，靜電放電是其失效的最大誘因。靜電放電導(dǎo)致LED失效的機(jī)理非常復(fù)雜，設(shè)備、工具、器皿及人體均有可能帶有靜電并對(duì)其放電，這種靜電少則幾百伏，高則幾萬(wàn)伏，放電時(shí)間在納秒級(jí)水平。我們?cè)陲@示屏生產(chǎn)、安裝、使用過程中出現(xiàn)的藍(lán)綠管失效，往往就是LED-PN結(jié)被靜電放電擊穿所至。國(guó)際靜電協(xié)會(huì)嚴(yán)格規(guī)定了標(biāo)準(zhǔn)靜電放電模式，主要分為人體放電模式(HBM)和機(jī)器放電模式(MM)。我國(guó)對(duì)器件的靜電放電敏感度(ESDS)分為三個(gè)等級(jí)(人體模式)：1級(jí)為0～1999V;2級(jí)為2000～3999V;3級(jí)為4000V以上。